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Fluke TIX650红外热像仪

  • FLUKE TiX650 采用640*480 探测器在超像素技术下达到1280*960 像素,同时在部分量程达到正负1% 的精度,满足尖端研发测试需求。

    1、连讯达20多年测试仪器仪表行业经验;
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    福禄克红外热像仪体验佳、性能好、可靠性高,使检查和分析工作摆脱凭空臆测。


    卓越的图像质量


    空间分辨率(IFOV)0.8 mRad

    分辨率640 x 480 (307,200 像素)

    视场角32° x 24° (1.0/30 mm)

    温度量程-40 至2000 °C



    ●  精准清晰,满足各种尖端测试需求

    TiX650 采用640*480 探测器在超像素技术下达到1280*960 像素,同时在部分量程达到正负1% 的精度,满足尖端研发测试需求。


    ●  多种配置,适应不同测试场景

    TiX650 配置了五种不同的可更换镜头可以满足从10um 到500 米的测试距离,提供了120HZ 的高帧频选项,轻松应对激光焊接/ 流水线跟踪等应用。


    ●  研发专用软件配套

     TiX650 标配Fluke SMART VIEW R&D 软件, 高标准研发软件提供3D 温度,多条件触发,任意点数据提取等功能,保证科学试验及质量控制使命必达。


    电力输电线


    供热管线泄漏巡查

    水泥厂生产线监测

    电路板元器件检查








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